Materiali Polimerici Semicristallini

La dotazione strumentale del CR Materiali Polimerici Semicristallini

La dotazione strumentale del Centro è la seguente:

  • Accessorio alta temperatura per Nanostar
  • Accessorio per bassa temperatura per diffrattometro P4
  • Alliance GPC 2000 Waters per determinazione dei pesi molecolari di polimeri anche ad alta temperatura
  • Cluster LINUX di 24 PC con CPU Pentium IV 1.8GHz. Accesso a supercomputing Cluster Xeon - EXADRON (CILEA), HP SuperDome (CILEA) etc.
  • Detector bidimensionale Histar (utilizzabile su NANOSTAR e P4)
  • Diffrattometro NANOSTAR SAXS/WAXS
  • Diffrattometro raggi X 4 cerchi P4 SIEMENS. con detector Histar, per studi microstrutturali su polimeri (fibre e polveri)
  • FT-Raman Nicolet 910, laser Nd-YAG a 1064 nm 1 Watt di potenza; detett. al Ge raffreddato N2 liq.; 120 -3200 cm-1; risol. 1-4 cm-1
  • FT-Raman Nicolet NXR9650, laser Nd-YVO4 e detett al Ge raffr. ad N2 liq. ed InGaAs raffr. cella Peltier ; 100-3200 cm-1; risol. da 1-4 cm-1
  • HPLC Waters a grad. doppia pompa con rivelatore UV/vis a serie di diodi
  • Interferometro FTIR Nicolet Magna 560; detett. DTGS; 400- 6000 cm-1; max.risol. 0.5 cm-1
  • Interferometro FTIR Nicolet NEXUS; 400 a 6000 cm-1; detett. DTGS; max.risol. 0.125 cm-1
  • Microscopio infrarosso Thermo Nicolet Continumm; detett. MCT ; obiett. IR Cassegrain 15 X; obiettivo visibile 10X; accessorio ATR in silicio;obiettivo Cassegrain 30X Grazing Angle
  • Sistema di misura di riflettanza spettrale (400-1700 nm) Filmetric F20 EXR
  • Spettrofluorimetro Jasco SP 6600; da 190 a 1400 cm-1; risol. 0.2 nm; accessorio ad angolo radente per misure su films sottili.
  • Spettrofotometro UV-VIS NIR Jasco 570V; da 190 a 2500 cm-1; tubo fotomoltipl. e PBS per misure NIR; sfera integratrice; risoluzione massima 0.025 nm
    Spettrometro Raman dispersivo a doppio monocrom. con reticoli a 1800 righe/mm mod. Dilor XY equip. con Microscopio Olympus con obiettivi 10X, 50X e 100X; laser Ar+ potenza 1 W e laser HeNe 50 mW; detet. CCD 1024x128 pixel raffredd. ad N2 liq
  • Spettrometro Raman dispersivo Labram HR800 con reticoli 600 righe/mm, 1800 righe/mm, 2400 righe/mm equip. con microscopio Olympus BX41 con obiettivi 10X, 50X e 100X e linea eccitatrice 785 nm (Laser XTRA Toptica Photonics); detett. CCD raffr. cella Peltier (Politecnico di Milano)
  • NMR Bruker 400 Avance
  • Spettrometro NMR Varian INOVA 500
  • Calorimetro differenziale DSC Mettler DSC822E, DSC-30 e termobilancia
  • Calorimetro differenziale DSC Perkin Elmer PYRIS.
  • Calorimetro e bilancia termogravimetrica SdT 29/60 DSC-TGA TA Instruments
  • Database cristallografico ICDD
  • Diffrattometro a quattro cerchi con area detector K-CCD Bruker- Nonius
  • Diffrattometro di raggi X al basso angolo Anton-Paar
  • Diffrattometro di raggi X con due camere cilindrica a doppio raggio Huber e camera cilindrica a doppio raggio Ital Structure
  • Diffrattometro di raggi X per polveri PHILIPS PW 2273/20 dotato di camera per alte e basse temperature
  • Dinamometro "Zwicki" della Zwick Roell per determinazione delle proprietà meccaniche di materiali.
  • Dinamometro Miniature Material Tester "Minimat" della Rheometric Instruments per determinazione delle proprietà meccaniche di materiali
  • Microscopio polarizzatore con fotocamera digitale Zeiss
  • Molecular Display Sylicon Graphics Octane 2 e software Cerius2 Accelerys
  • Profilometro KLA-Tencor Alpha-Step IQ
  • Porosimetro Nova Quantachrome 4200e
    Sistema "Imaging plate" per l'acquisizione di spettri di diffrazione dei raggi X (ModelloFUJI BAS 1800)
  • Spin coater FR10KPAHC – Calctec Srl
  • n°3 Dry-Box per manipolazioni in atmosfera controllata
  • Analizzatore Dinamico Meccanico DMTA -Triton
  • Bilancia per misure termogravimetriche (Mettler)
  • Calorimetro a Scansione Differenziale (Mettler) con accessorio per misure a bassa temperatura
  • Calorimetro a Scansione Differenziale (TA2920) con accessorio per misure a bassa temperatura
  • Cromatografo a permeazione di gel con rivelatore UV ed indice di rifrazione
  • Cromatografo a permeazione di gel con viscosimetro ed indice di rifrazione per misure ad alte temperature
  • Diffrattometro a raggi X (Philips) automatico con accessorio per misure a temperatura controllata
  • Diffrattometro a raggi X (Rigaku) a 4 cerchi per misure su cristallo singolo
  • Dinamometro INSTRON
  • Gascromatografo con rivelatore a Spettrometro di Massa
  • Microscopio ottico polarizzatore dotato di compensatori K e sistema fotografico digitale
  • n°4 autoclavi per reazioni sotto pressione (Biuchi)
  • Rivelatore PSD (vantec) Per Diffrattometro BRUCKER
  • Sistema "Imaging plate" per l'acquisizione di spettri di diffrazione dei raggi X
  • Spettrofluorimetro (SpectraPro)
  • Spettrofotometro Infrarosso a Trasformata di Fourier (Brucker) con accessori per analisi in trasmissione, riflessione, riflessione diffusa e misura a temperatura controllata
  • Spettrofotometro IR Tensor 27 (Brucker) per misure di Dicroismo Circolare
  • Vibrazionale (VCD)
  • Spettrofotometro IR Vertex 70
  • Spettrofotometro UV-Visibile (Perkin Elmer)
  • Spettrometro per Risonaza Magnetica Nucleare (Bruker) 250,300,400 e 600 MHz
  • Spin coater SPS Systems

Il Coordinatore e le UdR coinvolte


Gli obiettivi del CR Materiali Polimerici Semicristallini


Cosa può offrire il CR Materiali Polimerici Semicristallini all'industria

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