Centro di riferimento per materiali nanodimensionati per microelettronica e settori correlati

La dotazione strumentale del CR Materiali nanodimensionati per microelettronica e settori correlati

Nel Centro si possono trovare:

  • Microscopio a scansione elettronica Field Emission a pressione variabile
  • Diffrattometro theta-2theta Bruker AXS 5005 con culla di Eulero
  • Diffrattometro theta-theta Bruker axs 5005
  • Glove box per manipolazioni sottoazoto
  • Microscopio a forza atomica NT-MDT
  • MIcroscopio a scansione elettronica a scansione LEO Iridium 1450 con rivelatori per microanalisi EDX e WDX
  • Reattore MOCVD interfacciato con spettrometro IR
  • Spettrometro combinato XPS-Auger
  • Termobilancia Mettler Toledo TGA/SDTA 851e
  • Electrospinning IME Technology con camera climatica
  • Reattore CVD Cube (Oerlikon) per la deposizione di grafene e nanotubi di C
  • Microscopio Ottico a Scansione Near Field (SNOM) NT-MDT
  • Sistema SFG EKSPLA

Il Coordinatore e le UdR coinvolte


Gli obiettivi del CR Materiali nanodimensionati per microelettronica e settori correlati


Cosa può offrire il CR Materiali nanodimensionati per microelettronica e settori correlati all'industria

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